PHL 應力雙折射檢測儀PA係列

產品簡介：

PHL 應力雙折射檢測儀PA係列由日本Photonic lattice公司開發，具備高精度和快速測量的特點。該設備采用光子晶體偏光陣列片和獨特的雙折射算法，能在幾秒內完成從毫米級到接近500毫米樣品的雙折射測量，測量範圍為0-130nm。其特點包括操作簡便、視野廣闊、無需旋轉光學濾片，並配備高像素偏振相機。適用於光學鏡片、智能手機玻璃基板及藍寶石等材料的測量，支持多種分析功能和外部控製

Name: PHL 應力雙折射檢測儀PA係列PA-300
Brand: Photonic Lattice
Price: 1000 CNY
Availability: InStock

產品型號：PA-300

更新時間：2026-01-16

廠商性質：代理商

訪問量：221

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應力雙折射檢測係統具有多種分析功能

應力雙折射檢測係統應用於手機3D玻璃的研發、生產和質量檢測中

Photonic Lattice應力雙折射儀在注塑成型透光器件中的檢測步驟

Photonic Lattice應力雙折射儀：高效測量應力雙折射的創新工具

產品介紹

品牌	Photonic Lattice	價格區間	麵議
產地類別	進口	應用領域	化工,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天

PHL 應力雙折射檢測儀PA係列

PA係列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶體技術，針對玻璃、SIC晶圓、藍寶石等低應力雙折射的測量係統，數秒給出被測產品的應力雙折射大小和分布信息

產品簡介:

PHL 應力雙折射檢測儀PA係列針對高雙折射的透明材料開發的光學測量設備，通過核心的偏光圖像傳感器，可以快速準確的測量透明材料的應力雙折射，針對不同產品尺寸，均有可匹配的型號可供選擇。

主要特點:

可快速自動測量應力雙折射的大小、方向和分布

麵測量、可一次測量視野範圍內樣品的全部數據

具備點、線、麵、3D的分析功能

500萬像素，高分辨能力

可輸出光程差（nm）、偏振角度（°）、應力（Mpa）、應力雙折射（nm/mm）

技術參數：

PHL 應力雙折射檢測儀PA係列

測量案例

PHL 應力雙折射檢測儀PA係列

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