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更新時間:2026-01-22
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在半導體、真空鍍膜、精密電子等對潔淨度要求高的行業,隱藏著一群 “隱形破壞者"—— 粒徑小至納米級、亞微米級的懸浮顆粒。它們肉眼不可見,卻能悄悄導致產品良率下滑、設備故障頻發,成為製約生產效率的關鍵瓶頸。
如何讓這些 “隱形隱患" 無所遁形?北京麻豆国产精品入口科技有限公司給出了答案!其微粒子可視化係統(Particle Visualizer System),憑借前沿光學技術與智能圖像處理能力,覆蓋從納米到粗大顆粒的全場景監測需求,讓微小顆粒的動態軌跡清晰呈現,為高新製造築牢品質防線!

· 無需激光,光源直接實現亞微米異物目視觀察
· 圖像處理技術補充不可見粒子圖像
· 輕薄化設計,可嵌入設備內部不占空間

· 點光源設計,評估細顆粒 3D 運動行為
· 捕捉材料飛濺、計數器測不到的汙染
· 附帶濾光片,抑製發光幹擾,適配氣相沉積源拍攝

· 4 級激光器,實現 100 納米級粒子可視化
· 高直線性 + 窄波長帶,抑製雜散光、阻擋環境光
· 精準捕捉極小異物,無觀測盲區

· 聚焦 LED 光,識別纖維、樹脂、金屬等粗大粒子
· 性價比高,引入成本更低
· 支持擴展光源,擴大可視化範圍
· 500 萬像素高清畫質,50g 超小體積
· USB 供電無需外接電源
· 微距鏡頭 + 對焦確認功能,新手易上手
· 分圖像處理、視頻編輯、分析三大模塊
· 無安裝數量限製,支持無塵室拍攝 + 辦公室分析
· 搭配 USB 許可證密鑰,使用靈活
· 5 種處理模式,含 2 種亞微米專用模式
· 掩膜處理 + 電子變焦,小顆粒清晰可見
· 10 大計數功能,覆蓋粒子數量、粒徑分布、速度等
· 支持單個粒子 ID 識別與幀間跟蹤
· 適配氣溶膠環境,生成亮度區域評估表格
· 客戶可自配電腦,規避攜帶安全問題
· 無需定期維護或校準,開箱即用
· 覆蓋半導體、精密電子、真空鍍膜、無塵室等場景
· 從源頭把控汙染,提升產品合格率
讓微粒子可視化係統成為你的品質守護官,告別 “隱形汙染",讓每一個生產環節都清晰可控!
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